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Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - Fornitura ed installazone di un Difrattometro a raggi X per la caratterizzazione di ossidi metallici semiconduttori - in particolare nanofili di Zno - da collocare presso il laboratorio Sensors
Fornitura ed installazione di un difrattometro a raggi x
Pubblicazione:
Mercoledì, 19 Giugno, 2013 - 14:00
Ultimo aggiornamento: 19/06/13, alle ore 14:21
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